基本信息:
- 专利标题： 用於快閃記憶體之低密度同位檢查抹除解碼
- 专利标题（英）：Ldpc erasure decoding for flash memories
- 专利标题（中）：用于闪存之低密度同位检查抹除译码
- 申请号：TW100108588 申请日：2011-03-14
- 公开(公告)号：TWI579854B 公开(公告)日：2017-04-21
- 发明人： 鍾浩 , ZHONG, HAO , 李焱 , LI, YAN , 丹尼拉克 拉多斯拉夫 , DANILAK, RADOSLAV , 柯罕 厄爾T , COHEN, EARL T.
- 申请人： LSI公司 , LSI CORPORATION
- 专利权人： LSI公司,LSI CORPORATION
- 当前专利权人： LSI公司,LSI CORPORATION
- 代理人： 陳長文
- 优先权： 61/313,681 20100312
- 主分类号： G11C29/42
- IPC分类号： G11C29/42 ; G11C16/20
公开/授权文献:
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G11 | 信息存储 |
| ----G11C | 静态存储器 |
| ------G11C29/00 | 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器 |
| --------G11C29/04 | .损坏存储元件的检测或定位 |
| ----------G11C29/08 | ..功能测试，例如，在刷新、通电自检（POST）或分布型测试期间的测试 |
| ------------G11C29/12 | ...用于测试的内置装置，例如，内置的自检装置（BIST） |
| --------------G11C29/38 | ....响应验证装置 |
| ----------------G11C29/42 | .....用纠错码（ECC）或奇偶校验检查 |