基本信息:
- 专利标题: 半導體裝置及其製造方法
- 专利标题(英):Semiconductor device and manufacturing method thereof
- 专利标题(中):半导体设备及其制造方法
- 申请号:TW104114238 申请日:2015-05-05
- 公开(公告)号:TWI576927B 公开(公告)日:2017-04-01
- 发明人: 高永範 , KO, YEONG BEOM , 金錦漢 , KIM, JIN HAN , 金東進 , KIM, DONG JIN , 金道亨 , KIM, DO HYUNG , 瑞訥 格蘭 , RINNE, GLENN
- 申请人: 艾馬克科技公司 , AMKOR TECHNOLOGY, INC.
- 专利权人: 艾馬克科技公司,AMKOR TECHNOLOGY, INC.
- 当前专利权人: 艾馬克科技公司,AMKOR TECHNOLOGY, INC.
- 代理人: 閻啟泰; 林景郁
- 优先权: 10-2014-0108365 20140820;14/692,152 20150421
- 主分类号: H01L21/56
- IPC分类号: H01L21/56 ; H01L23/28 ; H01L23/528
公开/授权文献:
- TW201608652A 半導體裝置及製造其之方法 公开/授权日:2016-03-01
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
H | 电学 |
--H01 | 基本电气元件 |
----H01L | 半导体器件;其他类目未包含的电固体器件 |
------H01L21/00 | 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备 |
--------H01L21/02 | .半导体器件或其部件的制造或处理 |
----------H01L21/027 | ..未在H01L21/18或H01L21/34组中包含的为进一步的光刻工艺在半导体之上制作掩膜 |
------------H01L21/50 | ...应用H01L21/06至H01L21/326中的任一小组都不包含的方法或设备组装半导体器件的 |
--------------H01L21/56 | ....封装,例如密封层、涂层 |