基本信息:
- 专利标题: 干涉式光學成像裝置、其應用之系統及方法
- 专利标题(英):Optical interference imaging apparatus, system and method of the application of the same
- 专利标题(中):干涉式光学成像设备、其应用之系统及方法
- 申请号:TW104104362 申请日:2015-02-09
- 公开(公告)号:TWI553294B 公开(公告)日:2016-10-11
- 发明人: 黃升龍 , HUANG, SHENG LUNG , 何端書 , HO, TUAN SHU , 蔡建中 , TSAI, CHIEN CHUNG
- 申请人: 國立臺灣大學 , NATIONAL TAIWAN UNIVERSITY
- 申请人地址: 臺北市
- 专利权人: 國立臺灣大學,NATIONAL TAIWAN UNIVERSITY
- 当前专利权人: 國立臺灣大學,NATIONAL TAIWAN UNIVERSITY
- 当前专利权人地址: 臺北市
- 代理人: 范國華
- 优先权: 103138372 20141105
- 主分类号: G01B9/02
- IPC分类号: G01B9/02 ; G01B9/04 ; G02B21/00 ; A61B6/02
公开/授权文献:
- TW201617581A 干涉式光學成像裝置、其應用之系統及方法 公开/授权日:2016-05-16
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
G | 物理 |
--G01 | 测量;测试 |
----G01B | 长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量 |
------G01B9/00 | 组中所列的及以采用光学测量方法为其特征的仪器 |
--------G01B9/02 | .干涉仪 |