基本信息:

• 专利标题： 於靜態電流測試下檢測全域字元線缺陷
• 专利标题（英）：A NEW IDEA TO DETECT GLOBAL WORD-LINE DEFECT UNDER IDDQ TESTING CONCEPT
• 专利标题（中）：于静态电流测试下检测全域字符线缺陷
• 申请号：TW103126261 申请日：2014-07-31
• 公开(公告)号：TWI534819B 公开(公告)日：2016-05-21
• 发明人： 楊連聖 , YANG, LIEN SHENG , 張鴻文 , CHANG, HUNG WEN
• 申请人： 常憶科技股份有限公司 ,  CHINGIS TECHNOLOGY CORPORATION
• 申请人地址： 新竹市
• 专利权人： 常憶科技股份有限公司,CHINGIS TECHNOLOGY CORPORATION
• 当前专利权人： 常憶科技股份有限公司,CHINGIS TECHNOLOGY CORPORATION
• 当前专利权人地址： 新竹市
• 代理人： 侯德銘
• 主分类号： G11C29/02
• IPC分类号： G11C29/02 ; G11C8/08

公开/授权文献:

• TW201604881A  於靜態電流測試下檢測全域字元線缺陷 公开/授权日：2016-02-01

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