基本信息:
- 专利标题： 전자 디바이스의 개선된 테스트를 위한 시스템 및 방법
- 专利标题（英）：System and method for improved testing of electronic devices
- 专利标题（中）：用于改进电子设备测试的系统和方法
- 申请号：KR1020117022357 申请日：2010-03-26
- 公开(公告)号：KR1020110132572A 公开(公告)日：2011-12-08
- 发明人： 가르시아더글라스 , 쿠크버논 , 바렛스펜서
- 申请人： 일렉트로 싸이언티픽 인더스트리이즈 인코포레이티드
- 申请人地址： 미국, 오리건 *****, 포트랜드, 노스웨스트 싸이언스 파크 드라이브*****
- 专利权人： 일렉트로 싸이언티픽 인더스트리이즈 인코포레이티드
- 当前专利权人： 일렉트로 싸이언티픽 인더스트리이즈 인코포레이티드
- 当前专利权人地址： 미국, 오리건 *****, 포트랜드, 노스웨스트 싸이언스 파크 드라이브*****
- 代理人： 문경진
- 优先权： US12/732,002 2010-03-25; US61/163,550 2009-03-26
- 国际申请： PCT/US2010/028827 2010-03-26
- 国际公布： WO2010111590 2010-09-30
- 主分类号： G01R31/26
- IPC分类号： G01R31/26 ; H01L21/66
摘要：
고속으로 전기 및 광학 특성 모두에 의해 전기-광학 디바이스(52)를 테스트하고 분류하기 위한 개선된 방법 및 장치가 개시된다. 전기-광학 디바이스(52), 특히 발광 다이오드는 단일화 디바이스(14)에 의해 단일화되고, 이들이 전기 및 광학 특성에 대해 테스트(20)되는 선형 트랙(12)으로 전달된다. 디바이스는 테스트된 특성에 따라 다수의 상이한 빈(24)으로 분류(26)된다.
摘要（英）：
The improved method and apparatus for testing an optical device 52, and classification is disclosed - electricity by both electrical and optical properties at a high speed. Electro-optical device (52), in particular light-emitting diodes are unified by a single device 14, they are transmitted to the test 20, linear track 12 is for electrical and optical properties. Devices are classified (26) in a number of different bin (24) according to the test characteristics.
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/26 | .单个半导体器件的测试 |