基本信息:
- 专利标题： 메모리 시스템, 메모리 테스트 시스템 및 이의 테스트 방법
- 专利标题（英）：Memory system, memory test system and method thereof
- 专利标题（中）：存储器系统，存储器测试系统及其方法
- 申请号：KR1020090008038 申请日：2009-02-02
- 公开(公告)号：KR1020100088897A 公开(公告)日：2010-08-11
- 发明人： 조수행 , 송기재 , 서성동 , 하경호 , 김성구 , 김영금 , 조인성
- 申请人： 삼성전자주식회사
- 申请人地址： ***, Samsung-ro, Yeongtong-gu, Suwon-si, Gyeonggi-do, Republic of Korea
- 专利权人： 삼성전자주식회사
- 当前专利权人： 삼성전자주식회사
- 当前专利权人地址： ***, Samsung-ro, Yeongtong-gu, Suwon-si, Gyeonggi-do, Republic of Korea
- 代理人： 리앤목특허법인
- 主分类号： G01R31/3183
- IPC分类号： G01R31/3183 ; G01R31/3181
摘要：
PURPOSE: A memory system, a memory test system, and a testing method thereof are provided to maintain the quality of a clock signal by optically splitting the clock signal. CONSTITUTION: A memory test system comprises a system memory(MEM1,MEM2), a tester(120), and an optical splitting module(140). The tester generates a clock signal and a test signal for testing the memory. The optical splitting module includes an electro-optic signal converter(142), an optical signal splitter(144), and an optic-electro signal converter(146). The electro-optic signal converter outputs an optical clock signal and an optical test signal by converting the clock signal and the test signal into an optical signal. The optical signal splitter splits the optical test signal and the optical test signal into n signals. The optic-electric signal converter converts the split optical clock signal and test signal into the electric signal used in the memory.
摘要（中）：
目的：提供存储器系统，存储器测试系统及其测试方法，以通过光学分离时钟信号来保持时钟信号的质量。 构成：存储器测试系统包括系统存储器（MEM1，MEM2），测试器（120）和光分离模块（140）。 测试仪产生时钟信号和测试信号，用于测试存储器。 光分路模块包括电光信号转换器（142），光信号分离器（144）和光电信号转换器（146）。 电光信号转换器通过将时钟信号和测试信号转换为光信号来输出光时钟信号和光测试信号。 光信号分路器将光学测试信号和光学测试信号分为n个信号。 光电信号转换器将分裂光时钟信号和测试信号转换为存储器中使用的电信号。
公开/授权文献:
- KR101548176B1 메모리 시스템, 메모리 테스트 시스템 및 이의 테스트 방법 公开/授权日：2015-08-31
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/02 | .对电设备、线路或元件进行短路、断路、泄漏或不正确连接的测试 |
| ----------G01R31/317 | ..数字电路的测试 |
| ------------G01R31/3181 | ...性能测试 |
| --------------G01R31/3183 | ....测试输入量的产生，例如测量矢量、图形或顺序 |