基本信息:
- 专利标题： 광빔의 파면을 분석하기 위한 방법, 위상 격자 및 장치
- 专利标题（英）：Method, phase grating and device for analyzing a wave surface of a light beam
- 专利标题（中）：方法，相位光栅和用于分析光束波面的装置
- 申请号：KR1020090035016 申请日：2009-04-22
- 公开(公告)号：KR1020090111786A 公开(公告)日：2009-10-27
- 发明人： 프리모,제롬 , 툴롱,브뤼노 , 게르노,니꼴라 , 벨쥐,사브리나 , 아이다,리아
- 申请人： 오네라 (오피스 내셔널 드뚜드데 에 드 르셰세 에어로스페시알르)
- 申请人地址： Chemin de la huniere, F-***** Palaiseau France
- 专利权人： 오네라 (오피스 내셔널 드뚜드데 에 드 르셰세 에어로스페시알르)
- 当前专利权人： 오네라 (오피스 내셔널 드뚜드데 에 드 르셰세 에어로스페시알르)
- 当前专利权人地址： Chemin de la huniere, F-***** Palaiseau France
- 代理人： 김영철; 이준서; 김 순 영
- 优先权： FR0852688 2008-04-22
- 主分类号： G01J3/18
- IPC分类号： G01J3/18 ; G01J9/00
摘要：
PURPOSE: A method for analyzing a wave surface of a light beam, a phase lattice and a device thereof are provided to use for power laser beam shaping. CONSTITUTION: A first phase function, an exclusion function, defines the mesh of an availability area(ZU) which does not bring a phase space variation and an exclusion area(ZE) which brings a rapid phase variation on the transmission and reflection of light of analyzed beam. A second phase function, a base phase function bring, brings a phase shaft corresponding to the selected mesh from square and hexagonal meshes between two optical pencil beams. The first phase function and the second phase function are multiplied.
摘要（中）：
目的：提供一种用于分析光束的波面的方法，相位晶格及其装置，用于功率激光束成形。 构成：第一阶段功能，排除功能，定义不带相位空间变化的可用性区域（ZU）的网格和排除区域（ZE），该区域对光的透射和反射带来快速相位变化 分析梁。 第二相位函数，基相位函数带来，从两个光学笔架波束之间的正方形和六边形网格中引出对应于所选网格的相位轴。 第一相功能和第二相功能相乘。
公开/授权文献:
- KR101664207B1 광빔의 파면을 분석하기 위한 방법, 위상 격자 및 장치 公开/授权日：2016-10-11
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01J | 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法 |
| ------G01J3/00 | 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色 |
| --------G01J3/02 | .零部件 |
| ----------G01J3/18 | ..利用衍射元件，例如光栅 |