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1. 发明公开

KR1020090111786A 광빔의 파면을 분석하기 위한 방법, 위상 격자 및 장치 有权
标题翻译：方法，相位光栅和用于分析光束波面的装置
公开(公告)号：KR1020090111786A
公开(公告)日：2009-10-27
申请号：KR1020090035016
申请日：2009-04-22
申请人： 오네라 (오피스 내셔널 드뚜드데 에 드 르셰세 에어로스페시알르)
发明人： 프리모,제롬 , 툴롱,브뤼노 , 게르노,니꼴라 , 벨쥐,사브리나 , 아이다,리아
IPC分类号： G01J3/18 , G01J9/00
CPC分类号： G01J9/0215
摘要： PURPOSE: A method for analyzing a wave surface of a light beam, a phase lattice and a device thereof are provided to use for power laser beam shaping. CONSTITUTION: A first phase function, an exclusion function, defines the mesh of an availability area(ZU) which does not bring a phase space variation and an exclusion area(ZE) which brings a rapid phase variation on the transmission and reflection of light of analyzed beam. A second phase function, a base phase function bring, brings a phase shaft corresponding to the selected mesh from square and hexagonal meshes between two optical pencil beams. The first phase function and the second phase function are multiplied.
摘要翻译：目的：提供一种用于分析光束的波面的方法，相位晶格及其装置，用于功率激光束成形。构成：第一阶段功能，排除功能，定义不带相位空间变化的可用性区域（ZU）的网格和排除区域（ZE），该区域对光的透射和反射带来快速相位变化分析梁。第二相位函数，基相位函数带来，从两个光学笔架波束之间的正方形和六边形网格中引出对应于所选网格的相位轴。第一相功能和第二相功能相乘。

2. 发明公开

KR1020080099277A 트리래터럴 변이형의 무채색 및 콤팩트 광학 간섭계 有权
标题翻译： TRILATERAL SHIFT类型的高精度和紧凑光学干涉仪
公开(公告)号：KR1020080099277A
公开(公告)日：2008-11-12
申请号：KR1020087020398
申请日：2007-01-16
申请人： 오네라 (오피스 내셔널 드뚜드데 에 드 르셰세 에어로스페시알르)
发明人： 프리모,제롬 , 게르노,니꼴라 , 벨쥐,사브리나
IPC分类号： G01J9/02
CPC分类号： G01J9/02
摘要： The invention concerns a method and a device for analyzing a wave surface of a light beam, which consists in placing a diffraction grating (GR) in a plane perpendicular to the light beam to be analyzed and optically conjugated to the analyzing plane. Different emergent beams of the grating interfere by forming an image the deformations of which are related to the gradients of the analyzed wave surface. The method is characterized in that the grating (GR) multiplies an intensity function, produced by a hexagonal mesh two-dimensional grating (GI) with surface S transmitting the light of the beam to be analyzed in several emergent beams in accordance with a hexagonal mesh with a phase function, produced by a hexagonal mesh grating (GP) with surface 3S which introduces, between two adjacent emergent beams a phase-shift equal to 2'/3 (modulo 2').
摘要翻译：本发明涉及一种用于分析光束波面的方法和装置，其特征在于将衍射光栅（GR）放置在垂直于待分析光束的平面中，并与光学共轭于分析平面。光栅的不同出射光束通过形成其变形与分析的波面的梯度相关的图像而干涉。该方法的特征在于，光栅（GR）将由六边形网格二维光栅（GI）产生的强度函数与表面S相乘，该表面S根据六边形网格在几个出射光束中透射要分析的光束的光具有相位函数，由具有表面3S的六边形网格光栅（GP）产生，其在两个相邻的出射光束之间引入等于2'/ 3（模2'）的相移。

3. 发明授权

KR101664207B1 광빔의 파면을 분석하기 위한 방법, 위상 격자 및 장치 有权
标题翻译：用于分析光束波面的方法相位光栅和装置
公开(公告)号：KR101664207B1
公开(公告)日：2016-10-11
申请号：KR1020090035016
申请日：2009-04-22
申请人： 오네라 (오피스 내셔널 드뚜드데 에 드 르셰세 에어로스페시알르)
发明人： 프리모,제롬 , 툴롱,브뤼노 , 게르노,니꼴라 , 벨쥐,사브리나 , 아이다,리아
IPC分类号： G01J3/18 , G01J9/00
CPC分类号： G01J9/0215
摘要： 본발명은소스(S)로부터렌즈(O)의초점으로의광빔(F)의파면을분석하기위한방법에관한것이다. 빔(F)은분석면(P)상에위치하며결함(D)을갖는시료(LA)를비춘다. 면(P)의회절격자(GR)는초점시스템(O, O, O)을통해분석면(P)의접합면(conjugate)이다. 격자면(GR)으로부터거리(d)에위치한면(P)에이미지가형성되며, 처리수단(UT)에의해분석된다. 본발명은상기격자(GR)를 2개의위상함수를곱한결과인위상함수에의해인코드하며, 2개의위상함수들은분석하고자하는빔을광펜슬빔의형태로전송하는유용영역들의메쉬를정의하는제1 배타함수및 배타위상격자의인접하는메쉬들로부터나오는 2개의광펜슬빔사이에위상대립(opposition)을생성하는제2 위상기초함수이다.

4. 发明授权

KR101066856B1 주파수 차를 구비한 멀티래터럴 간섭계를 포함하는 파면 분석 방법 有权
标题翻译：涉及具有频率差异的多尺度干涉的WAVEFRONT分析方法
公开(公告)号：KR101066856B1
公开(公告)日：2011-09-26
申请号：KR1020087022589
申请日：2007-02-15
申请人： 오네라 (오피스 내셔널 드뚜드데 에 드 르셰세 에어로스페시알르)
发明人： 프리모,제롬 , 벨쥐,사브리나 , 게르노,니꼴라 , 아이다,리아 , 토비,미쉘
IPC分类号： G01J9/02 , G01B9/02
CPC分类号： G01J9/02 , G01J2009/0226
摘要： 주파수 차를 구비한
멀티래터럴
간섭계를 포함하는 파면 분석 방법
본 발명은 주파수 차를 구비한 멀티래터럴 간섭계를 포함하는 파면 분석 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따라, 2-차원 메싱을 구비한 회절 격자(GR)은 분석되는 빔의 경로에 배치되고 적어도 2개의 상이한 색을 구비한 적어도 2개의 간섭도가 처리되는데, 각각의 간섭도는 상이한 회절 차수를 구비한 2개의 서브-빔(R1, R2)으로부터 면(P
S ) 내에서 획득된다. 본 발명은 전단 파면(S)을 분석 및 보정하기 위해 이용될 수 있다.

5. 发明授权

KR101011227B1 트리래터럴 변이형의 무채색 및 콤팩트 광학 간섭계 有权
标题翻译： TRILATERAL SHIFT类型的高精度和紧凑光学干涉仪
公开(公告)号：KR101011227B1
公开(公告)日：2011-01-26
申请号：KR1020087020398
申请日：2007-01-16
申请人： 오네라 (오피스 내셔널 드뚜드데 에 드 르셰세 에어로스페시알르)
发明人： 프리모,제롬 , 게르노,니꼴라 , 벨쥐,사브리나
IPC分类号： G01J9/02
CPC分类号： G01J9/02
摘要： 트리래터럴 변이형의 무채색 및 콤팩트 광학 간섭계
회절 격자는, 분석되고 파면의 분석면에 광학적으로 결합된, 라이트 빔에 수직한 면에 배치되는, 라이트 빔의 파면을 분석하는 방법 및 시스템. 격자의 상이한 이머징 빔은 분석되는 파면의 성분에 링크된 변형을 구비한 이미지를 발생시키도록 간섭한다.
상기 방법은 육각형 메싱에 배치된 다수의 이머징 빔으로 분석되도록 빔의 라이트를 전송하는 표면 S의 육각형 메싱을 구비하는 2차원 격자에 의해 구현되는 광도 함수, 2개의 인접 2차 빔 사이의 2π/3(모듈로 2π)에 가까운 값의 위상 변이를 도입하는 표면 S의 육각형 메싱을 구비한 2차원 격자에 의해 구현되는 위상 함수를 증가하는 것을 특징으로 한다.

6. 发明公开

KR1020080097465A 주파수 차를 구비한 멀티래터럴 간섭계를 포함하는 파면 분석 방법 有权
标题翻译：涉及具有频率差异的多尺度干涉的WAVEFRONT分析方法
公开(公告)号：KR1020080097465A
公开(公告)日：2008-11-05
申请号：KR1020087022589
申请日：2007-02-15
申请人： 오네라 (오피스 내셔널 드뚜드데 에 드 르셰세 에어로스페시알르)
发明人： 프리모,제롬 , 벨쥐,사브리나 , 게르노,니꼴라 , 아이다,리아 , 토비,미쉘
IPC分类号： G01J9/02 , G01B9/02
CPC分类号： G01J9/02 , G01J2009/0226
摘要： The invention relates to a wavefront analysis method involving multilateral interferometry with frequency difference. According to the invention, a diffraction grating (GR) with two-dimensional meshing is placed on the path of the beam to be analysed and at least two interferograms with at least two different colours are processed, each interferogram being obtained in a plane (Ps) from two sub-beams (R1, R2) with different diffraction orders. The invention can be used to analyse and correct sheared wavefronts (S).
摘要翻译：本发明涉及涉及具有频差的多边干涉测量的波前分析方法。根据本发明，将具有二维啮合的衍射光栅（GR）放置在要分析的光束的路径上，并且处理至少两个具有至少两种不同颜色的干涉图，每个干涉图在平面中获得（Ps ）来自具有不同衍射级的两个子光束（R1，R2）。本发明可用于分析和校正剪切波前（S）。

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