基本信息:
- 专利标题: 이중 검출 반사 공초점 현미경 및 이를 사용하는 시편의 높이의 정보를 검출하는 방법
- 专利标题(英):Dual detection confocal reflecting microscope and method of detecting information on height of sample using same
- 专利标题(中):双重检测共焦反射显微镜及使用其测定样品高度信息的方法
- 申请号:KR1020130128066 申请日:2013-10-25
- 公开(公告)号:KR101505745B1 公开(公告)日:2015-03-26
- 发明人: 유홍기 , 이동령 , 권대갑 , 김영덕
- 申请人: 한양대학교 산학협력단 , 한국과학기술원
- 申请人地址: 서울특별시 성동구 왕십리로 ***(행당동, 한양대학교내)
- 专利权人: 한양대학교 산학협력단,한국과학기술원
- 当前专利权人: 한양대학교 산학협력단,한국과학기술원
- 当前专利权人地址: 서울특별시 성동구 왕십리로 ***(행당동, 한양대학교내)
- 代理人: 특허법인 무한
- 主分类号: G02B21/00
- IPC分类号: G02B21/00 ; G01B9/04 ; G01B11/22
The method for detecting the information of the confocal microscope and the specimen to detect the height information of the height of the specimen is provided. Embodiment of the confocal microscope is provided with a plurality of pin holes, it can be detected in the specimen height information based on the intensity of the reflected light passing through the plurality of pinholes, on the basis of information of a height of the detected specimen 3d of the sample this can be generated. Embodiment of confocal microscopy can detect the information of the height of the specimen without mechanical transport of the confocal microscope and / or the specimen, and simply by scanning the specimen in a two-dimensional surface to create a three-dimensional image of the specimen.