基本信息:
- 专利标题: 半導体装置
- 专利标题(英):Semiconductor device
- 申请号:JP2015160483 申请日:2015-08-17
- 公开(公告)号:JP6122917B2 公开(公告)日:2017-04-26
- 发明人: 宮入 秀和 , 秀和 宮入 , 剛 長多 , 剛 長多 , 山崎 舜平 , 舜平 山崎
- 申请人: 株式会社半導体エネルギー研究所
- 专利权人: 株式会社半導体エネルギー研究所
- 当前专利权人: 株式会社半導体エネルギー研究所
- 优先权: JP2008298000 2008-11-21
- 主分类号: H01L29/786
- IPC分类号: H01L29/786 ; H01L21/28 ; H01L21/8234 ; H01L21/8236 ; H01L27/06 ; H01L27/08 ; H01L27/088
公开/授权文献:
- JP2015228514A 半導体装置 公开/授权日:2015-12-17
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
H | 电学 |
--H01 | 基本电气元件 |
----H01L | 半导体器件;其他类目未包含的电固体器件 |
------H01L29/00 | 专门适用于整流、放大、振荡或切换,并具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的半导体器件;具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒,例如PN结耗尽层或载流子集结层的电容器或电阻器;半导体本体或其电极的零部件 |
--------H01L29/02 | .按其半导体本体的特征区分的 |
----------H01L29/68 | ..只能通过对一个不通有待整流、放大或切换的电流的电极供给电流或施加电位方可进行控制的 |
------------H01L29/70 | ...双极器件 |
--------------H01L29/762 | ....电荷转移器件 |
----------------H01L29/78 | .....由绝缘栅产生场效应的 |
------------------H01L29/786 | ......薄膜晶体管 |