基本信息:

• 专利标题： ルミネセンス像形成を用いた間接バンドギャップ半導体の試験方法およびシステム
• 专利标题（英）：Indirect band gap semiconductor test method and system using a luminescence imaging
• 专利标题（中）：间接带隙半导体的测试方法和系统中使用发光成像
• 申请号：JP2014139445 申请日：2014-07-07
• 公开(公告)号：JP5893683B2 公开(公告)日：2016-03-23
• 发明人： トラプケ、トールステン , バードス、ロバート、アンドルー
• 申请人： ビーティー イメージング ピーティーワイ リミテッド
• 申请人地址： オーストラリア国 ニューサウスウェールズ 1240 ヘイマーケット ピーオーボックス ケー61
• 专利权人： ビーティー イメージング ピーティーワイ リミテッド
• 当前专利权人： ビーティー イメージング ピーティーワイ リミテッド
• 当前专利权人地址： オーストラリア国 ニューサウスウェールズ 1240 ヘイマーケット ピーオーボックス ケー61
• 代理人： 辻居 幸一; 熊倉 禎男; 大塚 文昭; 西島 孝喜; 須田 洋之; 上杉 浩; 近藤 直樹
• 优先权： AU2006902366 2006-05-05
• 主分类号： H02S50/15
• IPC分类号： H02S50/15 ; G01N21/66 ; G01R31/26 ; H01L21/66

公开/授权文献:

• JP2014241414A  ルミネセンス像形成を用いた間接バンドギャップ半導体の試験方法およびシステム 公开/授权日：2014-12-25

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