基本信息:
- 专利标题: A charged particle beam apparatus
- 申请号:JP2011012435 申请日:2011-01-25
- 公开(公告)号:JP5364112B2 公开(公告)日:2013-12-11
- 发明人: 真一 富田 , 航 小竹 , 祐博 伊東
- 申请人: 株式会社日立ハイテクノロジーズ
- 专利权人: 株式会社日立ハイテクノロジーズ
- 当前专利权人: 株式会社日立ハイテクノロジーズ
- 优先权: JP2011012435 2011-01-25
- 主分类号: H01J37/147
- IPC分类号: H01J37/147 ; H01J37/04 ; H01J37/28
公开/授权文献:
- JP2012155911A Charged particle beam device 公开/授权日:2012-08-16
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
H | 电学 |
--H01 | 基本电气元件 |
----H01J | 放电管或放电灯 |
------H01J37/00 | 有把物质或材料引入使受到放电作用的结构的电子管,如为了对其检验或加工的 |
--------H01J37/02 | .零部件 |
----------H01J37/04 | ..电极装置及与产生或控制放电的部件有关的装置,如电子光学装置,离子光学装置 |
------------H01J37/147 | ...沿所需路径导引或偏转电子流的装置 |