基本信息:
- 专利标题： Method of manufacturing the electrical test for contacts
- 申请号：JP2007299220 申请日：2007-11-19
- 公开(公告)号：JP5087371B2 公开(公告)日：2012-12-05
- 发明人： 孝幸 林崎 , 秀樹 平川 , 亮 相馬 , 裕香 山谷
- 申请人： 株式会社日本マイクロニクス
- 专利权人： 株式会社日本マイクロニクス
- 当前专利权人： 株式会社日本マイクロニクス
- 优先权： JP2007299220 2007-11-19
- 主分类号： G01R1/073
- IPC分类号： G01R1/073 ; G01R31/28 ; H01L21/66