基本信息:
- 专利标题： Particle analyzer
- 申请号：JP2004025586 申请日：2004-02-02
- 公开(公告)号：JP4286678B2 公开(公告)日：2009-07-01
- 发明人： 田 芳 樹 岡 , 内 一 夫 武 , 元 淳 輔 藪
- 申请人： ワイコフ科学株式会社
- 专利权人： ワイコフ科学株式会社
- 当前专利权人： ワイコフ科学株式会社
- 优先权： JP2004025586 2004-02-02
- 主分类号： G01N15/02
- IPC分类号： G01N15/02 ; G01N27/60 ; B03C7/02
公开/授权文献:
- JP2005214931A Fine-particulate analyzer 公开/授权日：2005-08-11
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N15/00 | 测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积 |
| --------G01N15/02 | .测试颗粒的粒度或粒经分布 |