基本信息:
- 专利标题: Container inspection equipment
- 申请号:JP2001563892 申请日:2001-02-28
- 公开(公告)号:JP3805254B2 公开(公告)日:2006-08-02
- 发明人: ウー,ワンロン , ガオ,ウェンフアン , カン,ケジュン , ス,ジアンジュン , スン,オウ , スン,シャンミン , タン,チュアンシアン , チェン,ツィキアン , ツァン,フアイ , ユン,ドン , リ,ジアンミン , リ,ジュンリ , リ,ユアンジン , リアン,ツィツォン , リウ,イイノン
- 申请人: キンフア ダクスエ , ヌクテック カンパニー リミテッド
- 专利权人: キンフア ダクスエ,ヌクテック カンパニー リミテッド
- 当前专利权人: キンフア ダクスエ,ヌクテック カンパニー リミテッド
- 优先权: CN00103342 2000-03-01
- 主分类号: G01N23/04
- IPC分类号: G01N23/04 ; G01N20060101 ; G01V20060101 ; G01V5/00
公开/授权文献:
- JP2003525448A 公开/授权日:2003-08-26
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
G | 物理 |
--G01 | 测量;测试 |
----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
------G01N23/00 | 利用未包括在G01N21/00或G01N22/00组内的波或粒子辐射来测试或分析材料,例如X射线、中子 |
--------G01N23/02 | .通过使辐射透过材料 |
----------G01N23/04 | ..并形成图像 |