基本信息:
- 专利标题： FLUOR PLATE, X-RAY DETECTOR, AND X-RAY INSPECTION DEVICE
- 申请号：EP19858690.1 申请日：2019-12-19
- 公开(公告)号：EP4080522B1 公开(公告)日：2024-10-30
- 专利权人： Kabushiki Kaisha Toshiba,Toshiba Materials Co., Ltd.
- 当前专利权人： Kabushiki Kaisha Toshiba,Toshiba Materials Co., Ltd.
- 当前专利权人地址： 1-1, Shibaura 1-Chome Minato-ku; 8, Shinsugita-Cho
- 代理机构： Hoffmann Eitle
- 国际申请： JP2019049961 2019.12.19
- 国际公布： WO2021124532 2021.06.24
- 主分类号： G21K4/00
- IPC分类号： G21K4/00 ; G01T1/202 ; C09K11/84
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G21 | 核物理；核工程 |
| ----G21K | 未列入其他类目的粒子或电磁辐射的处理技术；照射装置；γ射线或X射线显微镜 |
| ------G21K4/00 | 用于将X射线或粒子辐射的空间分布转换成可见图像的转换屏幕，如荧光屏 |