基本信息:
- 专利标题： METHOD AND APPARATUS FOR TESTING A CHIP, AND CHIP THEREOF
- 申请号：EP21165130.2 申请日：2021-03-26
- 公开(公告)号：EP3943960B1 公开(公告)日：2023-04-19
- 发明人： GUO, Ziyu
- 专利权人： Beijing Baidu Netcom Science and Technology Co., Ltd.,KunlunXin Technology (Beijing) Company Limited
- 当前专利权人： KUNLUNXIN TECHNOLOGY (BEIJING) COMPANY LIMITED
- 当前专利权人地址： KUNLUNXIN TECHNOLOGY (BEIJING) COMPANY LIMITED
- 代理机构： Mewburn Ellis LLP
- 优先权： CN202010725015 20200724
- 主分类号： G01R31/3181
- IPC分类号： G01R31/3181 ; G01R31/319
公开/授权文献:
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/02 | .对电设备、线路或元件进行短路、断路、泄漏或不正确连接的测试 |
| ----------G01R31/317 | ..数字电路的测试 |
| ------------G01R31/3181 | ...性能测试 |