基本信息:
- 专利标题： 一种薄膜电阻检测镭切设备
- 申请号：CN202322314394.5 申请日：2023-08-28
- 公开(公告)号：CN221007352U 公开(公告)日：2024-05-24
- 发明人： 吴越 , 程如良 , 汪松炯 , 毛居全
- 申请人： 杭州思元智能科技有限公司
- 申请人地址： 浙江省杭州市萧山区戴村镇工业园区
- 专利权人： 杭州思元智能科技有限公司
- 当前专利权人： 杭州思元智能科技有限公司
- 当前专利权人地址： 浙江省杭州市萧山区戴村镇工业园区
- 代理机构： 杭州裕阳联合专利代理有限公司
- 代理人： 张震
- 主分类号： G01N21/88
- IPC分类号： G01N21/88 ; B23K26/38
摘要：
本实用新型提供一种薄膜电阻检测镭切设备，涉及薄膜电阻检测镭切技术领域，包括搬运机构、料盒、相机组件、激光器组件、载台组件和移动驱动模块，搬运机构用于将料盒中物料搬运至载台组件上，载台组件中设置有夹紧机构，载台组件安装在移动驱动模块上，载台组件能够移动至相机组件和激光器组件处进行检测和镭切。通过设置图像检测方式，相较于人工检测效率高，有效的降低了漏检、误检问题，并且检测精度高，将检测和镭切一体化，检测结束后能够立即进行镭切步骤，无需中转步骤，进一步提高效率。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N21/00 | 利用光学手段，即利用红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料 |
| --------G01N21/01 | .便于进行光学测试的装置或仪器 |
| ----------G01N21/88 | ..测试瑕疵、缺陷或污点的存在 |