基本信息:
- 专利标题： 负载型纳米颗粒信息的自动定量统计表征方法和装置
- 申请号：CN202510711152.0 申请日：2025-05-29
- 公开(公告)号：CN120707472A 公开(公告)日：2025-09-26
- 发明人： 陈迪 , 徐民 , 周泽林
- 申请人： 清华大学
- 申请人地址： 北京市海淀区清华园1号
- 专利权人： 清华大学
- 当前专利权人： 清华大学
- 当前专利权人地址： 北京市海淀区清华园1号
- 代理机构： 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)
- 代理人： 黄德海
- 主分类号： G06T7/00
- IPC分类号： G06T7/00 ; G06T7/136 ; G06T7/62 ; G06T5/30 ; G06T5/40 ; G06T5/70
摘要：
本申请涉及图像处理技术领域，特别涉及一种负载型纳米颗粒信息的自动定量统计表征方法和装置，包括：获取溶出类的负载型纳米颗粒的显微图像，对显微图像预处理得到处理后的图像，对处理后的图像标记后得到每个溶出类的负载型纳米颗粒的位置信息，从而确定每个溶出类的负载型纳米颗粒的颗粒直径，并获取溶出类的负载型纳米颗粒的金属密度、相对原子质量、钙钛矿的伪立方晶胞参数和掺杂元素的化学计量数，基于颗粒直径、金属密度和相对原子质量计算公式计算颗粒平均原子数，基于颗粒平均原子数、钙钛矿的伪立方晶胞参数和掺杂元素的化学计量数计算公式计算钙钛矿材料平均深度。由此，解决了基体材料负载纳米颗粒数量多、难以人工分析统计的问题。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G06 | 计算；推算；计数 |
| ----G06T | 一般的图像数据处理或产生 |
| ------G06T7/00 | 图像分析，例如从位像到非位像 |