
基本信息:
- 专利标题: 一种利用荧光光谱仪测定覆盖剂中多种成分含量的方法
- 申请号:CN202510666282.7 申请日:2025-05-22
- 公开(公告)号:CN120294047A 公开(公告)日:2025-07-11
- 发明人: 王宴秋 , 段晓晨 , 尹金霞 , 袁晓鸣 , 李萍 , 唐志轩 , 谢丽 , 黄禄璐
- 申请人: 包头钢铁(集团)有限责任公司
- 申请人地址: 内蒙古自治区包头市昆区河西工业区
- 专利权人: 包头钢铁(集团)有限责任公司
- 当前专利权人: 包头钢铁(集团)有限责任公司
- 当前专利权人地址: 内蒙古自治区包头市昆区河西工业区
- 代理机构: 北京律远专利代理事务所(普通合伙)
- 代理人: 苗凤香
- 主分类号: G01N23/223
- IPC分类号: G01N23/223 ; G01N1/40
摘要:
本发明公开一种利用荧光光谱仪测定覆盖剂中多种成分含量的方法,其包括以下步骤:1)制作预熔融试样;2)制作熔片;和3)利用荧光光谱仪对步骤2)制得的熔片进行光谱检测;其中:在步骤1)中,使用硝酸钠和由四硼酸锂与偏硼酸锂组成的混合熔剂对试样进行预熔融处理,得到所述预熔融试样;在步骤2)中,使用混合熔剂再次对所述预熔融试样进行熔融处理,得到所述熔片。本发明的方法可同时完成覆盖剂中Al
IPC结构图谱:
G | 物理 |
--G01 | 测量;测试 |
----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
------G01N23/00 | 利用未包括在G01N21/00或G01N22/00组内的波或粒子辐射来测试或分析材料,例如X射线、中子 |
--------G01N23/02 | .通过使辐射透过材料 |
----------G01N23/223 | ..通过用X射线辐照样品以及测量X射线荧光 |