基本信息:
- 专利标题： 冶金双金属复合管中界面缺陷的方法、系统、设备和介质
- 申请号：CN202311780978.X 申请日：2023-12-22
- 公开(公告)号：CN120195205A 公开(公告)日：2025-06-24
- 发明人： 苏航 , 尹成先 , 付安庆 , 李文升 , 袁军涛
- 申请人： 中国石油天然气集团有限公司 , 中国石油集团工程材料研究院有限公司
- 申请人地址： 北京市东城区东直门北大街9号
- 专利权人： 中国石油天然气集团有限公司,中国石油集团工程材料研究院有限公司
- 当前专利权人： 中国石油天然气集团有限公司,中国石油集团工程材料研究院有限公司
- 当前专利权人地址： 北京市东城区东直门北大街9号
- 代理机构： 北京轻创知识产权代理有限公司
- 代理人： 朱晓彤
- 主分类号： G01N23/2251
- IPC分类号： G01N23/2251 ; G01N15/02 ; G01B15/00 ; G06T7/00
摘要：
本发明公开了一种冶金双金属复合管中界面缺陷的方法、系统、设备和介质，涉及管道界面缺陷分析技术领域，方法包括：获取待测冶金双金属复合管的界面缺陷的扫描电子显微镜照片；对扫描电子显微镜照片进行处理，得到黑白二值化照片；根据黑白二值化照片，获取待测冶金双金属复合管的界面缺陷的粒径数据和原始型心坐标数据；根据待测冶金双金属复合管的界面缺陷的粒径数据和原始型心坐标数据，得到界面缺陷的粒径与空间分布的定量分析结果。本发明适于分析界面缺陷尺度为0μm～1000μm的冶金双金属复合管，解决了目前无损检测方法无法分析微米级缺陷的不足，成本更低，且简单易行。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N23/00 | 利用未包括在G01N21/00或G01N22/00组内的波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、中子 |
| --------G01N23/02 | .通过使辐射透过材料 |
| ----------G01N23/225 | ..利用电子或离子微探针 |
| ------------G01N23/2251 | ...使用入射电子束，例如扫描电子显微镜 |