基本信息:
- 专利标题： 一种光纤型单光子雪崩二极管的关键参数测试系统及其使用方法
- 申请号：CN202510455813.8 申请日：2025-04-11
- 公开(公告)号：CN120009692A 公开(公告)日：2025-05-16
- 发明人： 马华平 , 郭安然 , 田娟 , 张娜 , 唐遵烈
- 申请人： 中国电子科技集团公司第四十四研究所
- 申请人地址： 重庆市南岸区花园路14号
- 专利权人： 中国电子科技集团公司第四十四研究所
- 当前专利权人： 中国电子科技集团公司第四十四研究所
- 当前专利权人地址： 重庆市南岸区花园路14号
- 代理机构： 上海汉之律师事务所
- 代理人： 刘瑞雪
- 主分类号： G01R31/265
- IPC分类号： G01R31/265
摘要：
本申请提供的光纤型单光子雪崩二极管的关键参数测试系统及其使用方法，该系统通过测试模块为多个待测单光子雪崩二极管工作提供驱动，根据参数测试请求生成激光触发信号，还获取各待测单光子雪崩二极管在不同测试模式下测试光源照射及不照射时的脉冲参数，激光生成模块根据激光触发信号产生初始脉冲信号；激光调节传输模块调节初始脉冲激光的光衰减值并分离为多个激光功率相等的测试光源；通过控制模块监控激光生成模块的激光功率并配置激光调节传输模块的激光调节参数，还根据脉冲参数确定各待测单光子雪崩二极管的关键参数。本申请提供的系统可以在保证检测精度的同时，也能快速检测多个单光子雪崩二极管的关键参数，参数测试实施流程简单直观。