基本信息:
- 专利标题： 适用于平面近场暗室初相测试的桌面联试系统及其方法
- 申请号：CN202411954117.3 申请日：2024-12-27
- 公开(公告)号：CN119828086A 公开(公告)日：2025-04-15
- 发明人： 姜婕 , 高博 , 魏明
- 申请人： 中国电子科技集团公司第二十研究所
- 申请人地址： 陕西省西安市雁塔区白沙路1号
- 专利权人： 中国电子科技集团公司第二十研究所
- 当前专利权人： 中国电子科技集团公司第二十研究所
- 当前专利权人地址： 陕西省西安市雁塔区白沙路1号
- 代理机构： 重庆大学专利中心
- 代理人： 金凤
- 主分类号： G01S7/40
- IPC分类号： G01S7/40
摘要：
本发明提供了一种适用于平面近场暗室初相测试的桌面联试系统及其方法，通过模拟天线暗室测试系统的到位信号，将校准信号通过功分分别灌入采集接收通道，在多通道数字采集设备中完成校准信号采样，得到每个天线通道的初始相位值，再进行通道补偿，查看补偿结果是否符合要求。整个过程均可在实验室内完成，可完全模拟暗室测试系统到位信号时序，不需占用天线暗室资源，提高后续的天线暗室测试效率。本发明相比于传统方法大大提高了天线暗室测试效率，节省测试成本，并且本发明方法是一个通用性较强的方法，适用于平面近场暗室测试普遍情况。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01S | 无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置 |
| ------G01S7/00 | 与G01S13/00，G01S15/00，G01S17/00各组相关的系统的零部件 |
| --------G01S7/02 | .与G01S13/00组相应的系统的 |
| ----------G01S7/40 | ..监测或校准装置 |