基本信息:
- 专利标题： 一种EBSD原位观察装置
- 申请号：CN202411896422.1 申请日：2024-12-23
- 公开(公告)号：CN119757429B 公开(公告)日：2025-10-21
- 发明人： 黄光胜 , 王玮璋 , 王青孟 , 卢析锐 , 李建波 , 陈先华 , 郑开宏 , 蒋斌 , 潘复生
- 申请人： 重庆大学
- 申请人地址： 重庆市沙坪坝区沙正街174号
- 专利权人： 重庆大学
- 当前专利权人： 重庆大学
- 当前专利权人地址： 重庆市沙坪坝区沙正街174号
- 代理机构： 重庆华科专利事务所(普通合伙)
- 代理人： 李勇
- 主分类号： G01N23/203
- IPC分类号： G01N23/203 ; G01N23/20008 ; G01N23/20025
摘要：
本发明涉及材料性能测试装置，具体涉及一种EBSD原位观察装置，包括基座以及滑动连接于所述基座的滑槽中的两个滑动组件；单个滑动组件包括滚珠丝杠以及与所述滚珠丝杠外壁上的螺纹对应配合连接的滑块，所述滚珠丝杠能够绕其轴线旋转，带动所述滑块在所述基座的滑槽中做循环往复运动；所述滑块背离基座的一侧表面设有与试样端部对应配合的夹持槽。其结构简单，能够保持实验过程中的加载状态,原位观察试样在压缩实验过程中的微观组织变化。
公开/授权文献:
- CN119757429A 一种EBSD原位观察装置 公开/授权日：2025-04-04
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N23/00 | 利用未包括在G01N21/00或G01N22/00组内的波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、中子 |
| --------G01N23/02 | .通过使辐射透过材料 |
| ----------G01N23/203 | ..通过测量背散射 |