![产品测试方法、装置、电子设备及存储介质](/CN/2024/1/237/images/202411187560.jpg)
基本信息:
- 专利标题: 产品测试方法、装置、电子设备及存储介质
- 申请号:CN202411187560.2 申请日:2024-08-28
- 公开(公告)号:CN118921453A 公开(公告)日:2024-11-08
- 发明人: 全绍军 , 董经武
- 申请人: 长视科技股份有限公司
- 申请人地址: 广东省广州市黄埔区东明三路18号自编2栋
- 专利权人: 长视科技股份有限公司
- 当前专利权人: 长视科技股份有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省广州市黄埔区东明三路18号自编2栋
- 代理机构: 华进联合专利商标代理有限公司
- 代理人: 陈小娜
- 主分类号: H04N17/00
- IPC分类号: H04N17/00 ; H04N21/233 ; H04N21/234 ; H04N21/24 ; H04N21/439 ; H04N21/44 ; H04N21/442
摘要:
本申请涉及一种产品测试方法、装置、电子设备及存储介质。其中方法包括:将针对多个被测设备的测试任务分配给多个协程;通过每个协程,向与该协程相关联的被测设备发送测试指令,测试指令用于指示该被测设备获取多媒体数据和功能数据;通过每个协程,接收来自每个被测设备的多媒体数据和功能数据;通过每个协程,向多媒体测试程序发送每个被测设备的多媒体数据,并通过多媒体测试程序,对每个被测设备的多媒体数据进行处理,生成针对多个被测设备的多媒体测试报告;通过每个协程,将每个被测设备的功能数据汇总至主线程,并通过主线程,生成针对多个被测设备的功能测试报告。采用该方法,可提高产品测试的效率和准确率。