基本信息:
- 专利标题： 一种检测装置和用于检测探测装置的检测方法
- 申请号：CN202311361869.4 申请日：2023-10-19
- 公开(公告)号：CN118150762A 公开(公告)日：2024-06-07
- 发明人： 王伟 , 毕立新 , 王学瑞 , 王艳侠 , 苗波
- 申请人： 哲弗智能系统（上海）有限公司
- 申请人地址： 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区新金桥路1348号219室
- 专利权人： 哲弗智能系统（上海）有限公司
- 当前专利权人： 哲弗智能系统（上海）有限公司
- 当前专利权人地址： 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区新金桥路1348号219室
- 代理机构： 广州三环专利商标代理有限公司
- 代理人： 王若愚
- 主分类号： G01N33/00
- IPC分类号： G01N33/00 ; G01N15/06
摘要：
本发明公开了一种检测装置和用于检测探测装置的检测方法，包括测试容器、出气管路、回气管路和分析模块，测试容器设有出气口和回气口，出气管路的一端用于与所述出气口连接，另一端用于与探测装置的进气口连接，回气管路的一端用于与所述回气口连接，另一端用于与探测装置的排气口连接，分析模块，用于对探测信息进行分析，得到检测信息。本发明通过出气管路与回气管路在测试容器和探测装置之间提供双管路的循环通路，使得测试气体或测试气溶胶能够在测试容器和探测装置之间循环流动，保持探测装置中测试气体或测试气溶胶状的浓度和/或压力稳定，能够提高对探测装置的检测准确度。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N33/00 | 利用不包括在G01N1/00至G01N31/00组中的特殊方法来研究或分析材料 |