基本信息:
- 专利标题： MCU测试电路和MCU测试方法
- 申请号：CN202311567132.8 申请日：2023-11-22
- 公开(公告)号：CN117434430A 公开(公告)日：2024-01-23
- 发明人： 刘吉平 , 刘洋 , 王翔 , 郑增忠
- 申请人： 深圳市航顺芯片技术研发有限公司
- 申请人地址： 广东省深圳市罗湖区莲塘街道仙湖社区益清路61号航顺芯片大厦101
- 专利权人： 深圳市航顺芯片技术研发有限公司
- 当前专利权人： 深圳市航顺芯片技术研发有限公司
- 当前专利权人地址： 广东省深圳市罗湖区莲塘街道仙湖社区益清路61号航顺芯片大厦101
- 代理机构： 深圳市嘉勤知识产权代理有限公司
- 代理人： 汤金燕
- 主分类号： G01R31/3181
- IPC分类号： G01R31/3181
摘要：
本申请实施例公开了一种MCU测试电路和MCU测试方法，其中，该MCU测试电路包括主控MCU、待测MCU、LDO电路、电压调整电路和电压采集电路，主控MCU具有ADC输入引脚、DAC输入/输出引脚、通用输入引脚和通用输出引脚，主控MCU用于通过DAC输入/输出引脚和电压调整电路对LDO电路的输出电压进行调整，以及通过ADC输入引脚和电压采集电路对LDO电路的输出电压进行采集，从而对LDO电路进行闭环控制，以实现对待测MCU的PMU进行高精度测试。本方案可以提高对待测MCU的PMU监控处理功能的测试效率。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/02 | .对电设备、线路或元件进行短路、断路、泄漏或不正确连接的测试 |
| ----------G01R31/317 | ..数字电路的测试 |
| ------------G01R31/3181 | ...性能测试 |