基本信息:
- 专利标题： 一种镀层材料的氢含量检测装置和方法
- 申请号：CN202311275089.8 申请日：2023-09-28
- 公开(公告)号：CN117347149A 公开(公告)日：2024-01-05
- 发明人： 董源 , 王景润 , 王楠 , 崔庆新 , 冯立 , 李家峰 , 张家强 , 白晶莹 , 徐俊杰 , 佟晓波
- 申请人： 北京卫星制造厂有限公司
- 申请人地址： 北京市海淀区知春路63号
- 专利权人： 北京卫星制造厂有限公司
- 当前专利权人： 北京卫星制造厂有限公司
- 当前专利权人地址： 北京市海淀区知春路63号
- 代理机构： 中国航天科技专利中心
- 代理人： 贾文婷
- 主分类号： G01N1/44
- IPC分类号： G01N1/44 ; G01N27/626
摘要：
本申请公开了一种测量镀层材料氢含量的检测装置和方法，一种应用于航空航天设备中高精密高稳定要求的零件的镀层材料氢含量无损动态检测装置及方法。所述装置，包括真空工作腔、样品台、真空获得系统、真空测量系统、质谱仪以及主控设备。真空获得系统采用机械泵、分子泵、离子泵等多级真空泵获得高真空环境并可进行不同真空度量级的选择，质谱仪、真空泵通过真空管路与真空工作腔连接，所分析气体进入质谱仪进行分析检测。样品台的设计充分考虑样品台的快速均温加热以及快速冷却功能。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N1/00 | 取样；制备测试用的样品 |
| --------G01N1/02 | .取样装置 |
| ----------G01N1/44 | ..包括辐照的样品处理，例如，加热 |