基本信息:
- 专利标题： 一种缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质
- 申请号：CN202311265857.1 申请日：2023-09-27
- 公开(公告)号：CN117333443A 公开(公告)日：2024-01-02
- 发明人： 曲亚平 , 钟嶒楒 , 陈洪溪 , 李泽华 , 武霖 , 林润达 , 樊志强 , 王俊超 , 范佳卿 , 王亚超 , 叶晶 , 徐佳敏 , 张强 , 陈家颖 , 张越
- 申请人： 内蒙古霍煤鸿骏铝电有限责任公司 , 上海发电设备成套设计研究院有限责任公司 , 内蒙古电投能源股份有限公司
- 申请人地址： 内蒙古自治区通辽市霍林郭勒市工业园区
- 专利权人： 内蒙古霍煤鸿骏铝电有限责任公司,上海发电设备成套设计研究院有限责任公司,内蒙古电投能源股份有限公司
- 当前专利权人： 内蒙古霍煤鸿骏铝电有限责任公司,上海发电设备成套设计研究院有限责任公司,内蒙古电投能源股份有限公司
- 当前专利权人地址： 内蒙古自治区通辽市霍林郭勒市工业园区
- 代理机构： 北京品源专利代理有限公司
- 代理人： 孔凡红
- 主分类号： G06T7/00
- IPC分类号： G06T7/00 ; G06V10/764 ; G06V10/82 ; G06N3/096 ; G06N3/0464
摘要：
本发明公开了一种缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质。本发明涉及设备表面缺陷检测技术领域，方法包括：获取缺陷测试图片；将缺陷测试图片输入至预先训练的目标缺陷检测模型，确定缺陷测试结果；其中，目标缺陷检测模型是基于分割模型和二分类分割模型构建、并以优化规则为指标训练确定的模型。本发明的技术方案，基于分割模型和二分类分割模型构建、并以优化规则为指标训练确定的目标缺陷检测模型，然后获取缺陷测试图片；将缺陷测试图片输入至预先训练的目标缺陷检测模型，确定缺陷测试结果，旨在重训练获取工业设备的缺陷边缘特征，提高检测结果的准确性，及时发现设备的潜在隐患，提升设备工作的安全性。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G06 | 计算；推算；计数 |
| ----G06T | 一般的图像数据处理或产生 |
| ------G06T7/00 | 图像分析，例如从位像到非位像 |