基本信息:
- 专利标题： 一种颗粒全景三维形貌分析仪
- 申请号：CN202310937441.3 申请日：2023-07-28
- 公开(公告)号：CN116858129A 公开(公告)日：2023-10-10
- 发明人： 范继来 , 梁维安 , 孟庆学 , 李乃峰 , 李闯
- 申请人： 丹东百特仪器有限公司
- 申请人地址： 辽宁省丹东市边境合作区金泉工业区甘泉路9号
- 专利权人： 丹东百特仪器有限公司
- 当前专利权人： 丹东百特仪器有限公司
- 当前专利权人地址： 辽宁省丹东市边境合作区金泉工业区甘泉路9号
- 代理机构： 沈阳优普达知识产权代理事务所
- 代理人： 俞鲁江
- 主分类号： G01B11/245
- IPC分类号： G01B11/245 ; G01N15/02
摘要：
本发明公开一种颗粒全景三维形貌分析仪，包括支架，支架顶部设有X轴直线运动模组，支架中部设有工作台；X轴直线运动模组滑块上设有Y轴直线运动模组，Y轴直线运动模组滑块上设有感测高度调整模组；感测高度调整模组上下两端分别与上激光轮廓传感器、下激光轮廓传感器连接；工作台设置在上激光轮廓传感器、下激光轮廓传感器的对称面上；工作台为平整透明平台；X向电机和/或Y向电机外接编码器，用于触发上激光轮廓传感器和下激光轮廓传感器。本发明通过X轴直线运动模组和Y轴直线运动模组，实现上、下激光轮廓传感器在二维平面进行蛇形运动，从而对放置于透明工作台上的颗粒做全景扫描，进而获得准确的颗粒全景三维形貌及粒度信息等。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01B | 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 |
| ------G01B11/00 | 以采用光学方法为特征的计量设备 |
| --------G01B11/24 | .用于计量轮廓或曲率 |
| ----------G01B11/245 | ..使用多个固定的、同时启动的传感器 |