基本信息:
- 专利标题： 一种离子迁移谱快速扫描及谱图修正方法和装置
- 申请号：CN202310270153.7 申请日：2023-03-20
- 公开(公告)号：CN116359320A 公开(公告)日：2023-06-30
- 发明人： 陈池来 , 胡俊 , 刘友江 , 李山 , 张瑞
- 申请人： 中国科学院合肥物质科学研究院
- 申请人地址： 安徽省合肥市蜀山湖路350号
- 专利权人： 中国科学院合肥物质科学研究院
- 当前专利权人： 中国科学院合肥物质科学研究院
- 当前专利权人地址： 安徽省合肥市蜀山湖路350号
- 代理机构： 合肥国和专利代理事务所
- 代理人： 张祥骞
- 主分类号： G01N27/622
- IPC分类号： G01N27/622 ; G01N27/68 ; G01N27/70 ; H01J49/00 ; H01J49/04
摘要：
本发明涉及一种离子迁移谱快速扫描及谱图修正方法和装置。该方法包括：S1、系统标定：获取扫描谱图并进行参数拟合，确定系统参数；S2、快扫谱图获取：实时获取谱图，利用正向扫描电压获取正向扫描谱图，利用负向扫描电压获取负向扫描谱图；S3、谱图修正：根据系统参数、正向扫描谱图和负向扫描谱图，确定系统的原始高斯峰，进行谱图修正。本发明能够解决现有技术中的不足，大大提高FAIMS设备的扫描速度，提升设备整体的响应时间。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N27/00 | 用电、电化学或磁的方法测试或分析材料 |
| --------G01N27/02 | .通过测试阻抗 |
| ----------G01N27/622 | ..离子迁移光谱测定法 |