基本信息:
- 专利标题： 绝缘子缺陷检测方法、系统、设备及存储介质
- 申请号：CN202211529570.0 申请日：2022-12-01
- 公开(公告)号：CN115546568B 公开(公告)日：2023-03-10
- 发明人： 赵裕成 , 张志勇 , 陈超 , 艾坤 , 刘海峰 , 王子磊 , 汪琪
- 申请人： 合肥中科类脑智能技术有限公司
- 申请人地址： 安徽省合肥市高新区望江西路5089号中国科大先进技术研究院一号嵌入式研发楼3楼301室
- 专利权人： 合肥中科类脑智能技术有限公司
- 当前专利权人： 合肥中科类脑智能技术有限公司
- 当前专利权人地址： 安徽省合肥市高新区望江西路5089号中国科大先进技术研究院一号嵌入式研发楼3楼301室
- 代理机构： 北京清亦华知识产权代理事务所
- 代理人： 季永杰
- 主分类号： G06V10/764
- IPC分类号： G06V10/764 ; G06T7/00 ; G06V10/774 ; G06V10/82
摘要：
本发明公开了一种绝缘子缺陷检测方法、系统、设备及存储介质，方法包括：将待检测图像输入预先训练好的绝缘子目标检测模型，输出第一检测结果，若其包括绝缘子图像，则将裁剪至第一预设尺寸的绝缘子图像输入预先训练好的多标签分类模型，输出第二检测结果，其包括绝缘子的属性分类；多标签分类模型的训练过程：对第一训练集中图像中绝缘子图像进行第二裁剪，得到第二训练集；根据将第二训练集中的图像输入构建的多标签分类模型，输出的属性分类结果，和对第二训练集中的图像进行标注，得到的第二标签，构建损失函数，根据损失函数训练多标签分类模型。由此，能够解决正负样本不均衡的问题。
公开/授权文献:
- CN115546568A 绝缘子缺陷检测方法、系统、设备及存储介质 公开/授权日：2022-12-30