基本信息:
- 专利标题： 轴转动角度检测装置、方法以及电子设备
- 申请号：CN202211265521.0 申请日：2022-10-17
- 公开(公告)号：CN115342723B 公开(公告)日：2023-03-07
- 发明人： 吴奕斌 , 夏波 , 倪瑞铭 , 张耀国 , 张毓麟
- 申请人： 基合半导体(宁波)有限公司
- 申请人地址： 浙江省宁波市余姚市经济开发区冶山路475号1401室
- 专利权人： 基合半导体(宁波)有限公司
- 当前专利权人： 基合半导体(宁波)有限公司
- 当前专利权人地址： 浙江省宁波市余姚市经济开发区冶山路475号1401室
- 代理机构： 上海晨皓知识产权代理事务所
- 代理人： 成丽杰
- 主分类号： G01B7/30
- IPC分类号： G01B7/30
摘要：
本发明涉及角度测量技术领域，公开了轴转动角度检测装置、方法以及电子设备。该轴转动角度检测装置中：第一电极板位于第一平面；第二、三电极板为等大且中心相同的扇环、位于第一平面的平行平面；电介质位于上述两平面之间、其旋转轴垂直于上述平面且过上述扇环的中心；电介质在第二、三电极板上的投影均为扇环，两扇环的中心均为上述中心且内、外径分别相等；电容检测芯片的输入端连接三个电极板的引脚，用于对第一、二电极板之间的第一电容值和第一、三电极板之间的第二电容值的比值进行检测，并根据检测到的比值与上一次检测到的比值的变化确定电介质的轴转动角度。能够保证轴转动角度检测的准确度，提高轴转动角度检测的可靠性。
公开/授权文献:
- CN115342723A 轴转动角度检测装置、方法以及电子设备 公开/授权日：2022-11-15
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01B | 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 |
| ------G01B7/00 | 以采用电或磁的方法为特征的计量设备 |
| --------G01B7/30 | .用于计量角度或锥度；用于检测轴线准直 |