基本信息:
- 专利标题： 一种无取向硅钢析出物的检测分析方法
- 申请号：CN202210011882.6 申请日：2022-01-05
- 公开(公告)号：CN114487487A 公开(公告)日：2022-05-13
- 发明人： 程林 , 张立峰 , 刘云霞 , 刘晓强 , 刘兆月 , 刘恭涛 , 曹瑞芳 , 董晨曦 , 陈继冬 , 李跃
- 申请人： 首钢智新迁安电磁材料有限公司
- 申请人地址： 河北省唐山市迁安市西部工业区兆安街025号
- 专利权人： 首钢智新迁安电磁材料有限公司
- 当前专利权人： 首钢智新迁安电磁材料有限公司
- 当前专利权人地址： 河北省唐山市迁安市西部工业区兆安街025号
- 主分类号： G01Q30/20
- IPC分类号： G01Q30/20 ; G01Q30/02 ; G01Q30/04
摘要：
本申请涉及材料分析测试领域，尤其涉及一种无取向硅钢析出物的检测分析方法；所述方法包括：得到硅钢样品；将硅钢样品进行表面处理，得到纯净样品；将纯净样品进行电解腐蚀、冲洗和干燥，得到待检测样品；将待检测样品沿厚度方向设定为边缘层、次表层和中心层；将边缘层、次表层和中心层分别按照多个设定点位进行电镜图形的采集，得到边缘层的样品电镜图样、次表层的样品电镜图样和中心层的样品电镜图样；通过对前期制样过程中控制工艺参数，再通过在待检测样品的厚度方向的不同位置进行电镜图形的采集，对得到的电镜图样进行统计分析，能准确统计无取向硅钢的析出物数量和析出物的尺寸数据，从而能准确表征无取向硅钢的析出物。
公开/授权文献:
- CN114487487B 一种无取向硅钢析出物的检测分析方法 公开/授权日：2024-08-20
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01Q | 扫描探针技术或设备；扫描探针技术的应用，例如，扫描探针显微术 |
| ------G01Q30/00 | 用于辅助或改进扫描探针技术或设备的辅助手段，例如显示或数据处理装置 |
| --------G01Q30/20 | .样品处理装置或方法 |