基本信息:
- 专利标题： 一种非接触式位置检测装置
- 申请号：CN202110066496.2 申请日：2021-01-19
- 公开(公告)号：CN112880539A 公开(公告)日：2021-06-01
- 发明人： 刁怀庆 , 薛山 , 冯超
- 申请人： 天津中科华誉科技有限公司
- 申请人地址： 天津市东丽区华明高新技术产业区华丰路6号G3-304室
- 专利权人： 天津中科华誉科技有限公司
- 当前专利权人： 天津中科华誉科技有限公司
- 当前专利权人地址： 天津市东丽区华明高新技术产业区华丰路6号G3-304室
- 代理机构： 北京头头知识产权代理有限公司
- 代理人： 白芳仿; 刘锋
- 主分类号： G01B7/00
- IPC分类号： G01B7/00
摘要：
本发明涉及位置检测技术领域，其目的是提供一种非接触式位置检测装置，具有较强抵抗干扰磁场的能力、能够保证检测精度。所述非接触式位置检测装置包括磁体组件和用于检测磁场变化并计算所述磁体组件旋转角度的检测组件，所述磁体组件包括可绕中心旋转的底座及固定设置在所述底座上表面的至少一个磁体组，每个所述磁体组包括两个相对于所述底座的中心位置对称的磁体(1)，同组的两个所述磁体(1)在竖直方向上磁极相反设置；所述磁体组件的轴线与所述检测组件的轴线重合。本发明提供的解决了现有非接触式位置检测装置容易受外界电磁干扰的影响，检测精确度不高的问题。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01B | 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 |
| ------G01B7/00 | 以采用电或磁的方法为特征的计量设备 |