基本信息:
- 专利标题： 一种扫频光频梳相干层析成像虚像消除方法
- 申请号：CN202011433437.6 申请日：2020-12-10
- 公开(公告)号：CN112669226A 公开(公告)日：2021-04-16
- 发明人： 黄冬梅 , 李锋 , 卫炳江
- 申请人： 香港理工大学深圳研究院 , 香港理工大学
- 申请人地址： 广东省深圳市南山区粤海街道高新技术产业园南区粤兴一道18号香港理工大学产学研大楼205室;
- 专利权人： 香港理工大学深圳研究院,香港理工大学
- 当前专利权人： 香港理工大学深圳研究院,香港理工大学
- 当前专利权人地址： 广东省深圳市南山区粤海街道高新技术产业园南区粤兴一道18号香港理工大学产学研大楼205室;
- 代理机构： 深圳市君胜知识产权代理事务所
- 代理人： 谢松
- 主分类号： G06T5/00
- IPC分类号： G06T5/00 ; G06T5/50
摘要：
本发明公开了一种扫频光频梳相干层析成像虚像消除方法，包括步骤：相干层析成像系统采用至少两组扫频频率梳对目标样品进行成像，得到各扫频频率梳各自分别对应的点扩展函数；各组扫频频率梳的频率间隔不相同；再进行处理，得到处理的点扩展函数；处理的点扩展函数中目标样品的虚像位置的点扩展函数值为零；根据处理的点扩展函数，确定目标样品的实像位置。由于本发明采用至少两组不同频率间隔的扫频频率梳并应用于相干层析成像系统，得到各扫频频率梳各自分别对应的点扩展函数，并进行处理，使得处理的点扩展函数中目标样品的虚像位置的点扩展函数值为零，从而确定目标样品的实像位置，解决现有技术中存在虚像而无法准确获得图像真实位置的问题。
公开/授权文献:
- CN112669226B 一种扫频光频梳相干层析成像虚像消除方法 公开/授权日：2023-09-05
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G06 | 计算；推算；计数 |
| ----G06T | 一般的图像数据处理或产生 |
| ------G06T5/00 | 图像的增强或复原，如从位像到位像地建立一个类似的图形 |