
基本信息:
- 专利标题: 一种高低温环境下的测量误差动态补偿方法
- 申请号:CN202011253656.6 申请日:2020-11-11
- 公开(公告)号:CN112444271A 公开(公告)日:2021-03-05
- 发明人: 杨凯 , 余高旺 , 蔺立 , 曹雪兰 , 李磊 , 刘树猛 , 刘志远 , 郑业兵
- 申请人: 许继集团有限公司 , 许继电气股份有限公司 , 许昌许继软件技术有限公司
- 申请人地址: 河南省许昌市许继大道1298号
- 专利权人: 许继集团有限公司,许继电气股份有限公司,许昌许继软件技术有限公司
- 当前专利权人: 许继集团有限公司,许继电气股份有限公司,许昌许继软件技术有限公司
- 当前专利权人地址: 河南省许昌市许继大道1298号
- 代理机构: 北京中政联科专利代理事务所
- 代理人: 朱晓娟
- 主分类号: G01D3/028
- IPC分类号: G01D3/028
摘要:
本发明涉及一种高低温环境下的测量误差动态补偿方法,采样回路对某一待采集值采集,获取采样回路标准输出值和在高低温环境下每个温度点下的准确输出值;计算每个温度点下准确输出值/标准输出值作为每个温度点的温度系数,绘制温度系数随温度变化曲线;对温度系数随温度变化曲线进行拟合,拟合后的曲线存储至测量电路的主控芯片;所述主控芯片在测量过程中,根据反馈的当前温度,由拟合后的曲线获取对应温度系数;接收采样回路输出的测量值,乘以对应温度系数获得补偿后的测量值。本发明提高了测量准确率,且在线运算量小,避免过度占用CPU运算资源。本发明通过补偿克服了元器件本身受温度影响带来的误差,降低了对元器件本身温度稳定性要求。
IPC结构图谱:
G | 物理 |
--G01 | 测量;测试 |
----G01D | 非专用于特定变量的测量;不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置;计费设备;未列入其他类目的测量或测试 |
------G01D3/00 | 用于本组各小组中所列特定用途的测量装置 |
--------G01D3/028 | .减轻不希望产生的影响,例如温度、压力 |