![一种工件双面同位同步检测方法及装置](/CN/2020/1/263/images/202011319168.jpg)
基本信息:
- 专利标题: 一种工件双面同位同步检测方法及装置
- 申请号:CN202011319168.0 申请日:2020-11-23
- 公开(公告)号:CN112344858A 公开(公告)日:2021-02-09
- 发明人: 戴宜全 , 黄波 , 王二化
- 申请人: 常州信息职业技术学院
- 申请人地址: 江苏省镇江市武进区大学城内鸣新中路2号
- 专利权人: 常州信息职业技术学院
- 当前专利权人: 常州信息职业技术学院
- 当前专利权人地址: 江苏省镇江市武进区大学城内鸣新中路2号
- 代理机构: 南京正联知识产权代理有限公司
- 代理人: 顾伯兴
- 主分类号: G01B11/00
- IPC分类号: G01B11/00 ; G01N21/84 ; G01N21/88 ; G01N21/95
摘要:
本发明涉及一种工件双面同位同步检测方法及装置,所述相机的下方设置有含有同轴光模块的组合镜头,所述相机和含有同轴光模块的组合镜头相连接,所述工件固定于所述工件夹具支撑板结构上,所述工件夹具支撑板结构的两侧镜像方式的设置有反光镜支架结构,所述反光镜支架包括反光镜支架底板结构、斜面和两个斜肋板结构,所述斜面上通过胶黏方式连接有反光镜,所述斜肋板结构的下方设置有位置可调的所述反光镜支架底板结构,所述反光镜支架底板结构的下方设置有测量支撑台结构,所述反光镜支架底板结构通过长条沉头孔调节其相对于所述测量支撑台结构上的位置,借助步进电机实现精密定位,反光镜支架底板和工件夹具则保证了对称性,方便图像对比分析。
IPC结构图谱:
G | 物理 |
--G01 | 测量;测试 |
----G01B | 长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量 |
------G01B11/00 | 以采用光学方法为特征的计量设备 |