基本信息:
- 专利标题： 一种高阻膜测试系统及其测试方法
- 申请号：CN202011109814.0 申请日：2020-10-16
- 公开(公告)号：CN112212921B 公开(公告)日：2024-11-15
- 发明人： 姜建峰
- 申请人： 赫得纳米科技（昆山）有限公司
- 申请人地址： 江苏省苏州市昆山开发区高科技工业园都市路21号
- 专利权人： 赫得纳米科技（昆山）有限公司
- 当前专利权人： 赫得纳米科技（昆山）有限公司
- 当前专利权人地址： 江苏省苏州市昆山开发区高科技工业园都市路21号
- 代理机构： 上海创开专利代理事务所(普通合伙)
- 代理人： 汪发成
- 主分类号： G01D21/02
- IPC分类号： G01D21/02
摘要：
本发明涉及一种高阻膜测试系统及其测试方法，包括上卸料装置、硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置、电阻测量装置、附着力测量装置和控制装置。本发明的有益之处在于：能够通过硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置、电阻测量装置和附着力测量装置分别对高阻膜的硬度、厚度、透光效果、电阻值及附着力进行测试，降低人力投入，提高测试效率；除此之外，通过上卸料装置对高阻膜进行统一上卸料，保证检测过程的连续性，降低漏检几率，提高检测的准确性，并且降低整体空间占用。
公开/授权文献:
- CN112212921A 一种高阻膜测试系统及其测试方法 公开/授权日：2021-01-12
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01D | 非专用于特定变量的测量；不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置；计费设备；未列入其他类目的测量或测试 |
| ------G01D21/00 | 未列入其他类目的测量或测试 |
| --------G01D21/02 | .用不包括在其他单个小类中的装置来测量两个或更多个变量 |