基本信息:
- 专利标题： 利用人工智能的瑕疵检测系统及其方法
- 专利标题（英）：DEFECT INSPECTION SYSTEM AND METHOD USING ARTIFICIL INTELLIGENCE
- 申请号：CN201811472668.0 申请日：2018-12-04
- 公开(公告)号：CN110659662A 公开(公告)日：2020-01-07
- 发明人： 安比卡帕 , 亚鲁木鲁甘 , 徐敏堂 , 陆家樑 , 方志恒
- 申请人： 由田新技股份有限公司
- 申请人地址： 中国台湾新北市中和区连城路268号10楼之1
- 专利权人： 由田新技股份有限公司
- 当前专利权人： 由田新技股份有限公司
- 当前专利权人地址： 中国台湾新北市中和区连城路268号10楼之1
- 代理机构： 北京同立钧成知识产权代理有限公司
- 代理人： 罗英; 臧建明
- 优先权： 107122627 2018.06.29 TW
- 主分类号： G06K9/62
- IPC分类号： G06K9/62 ; G01N21/88
The invention provides a defect inspection system and method using artificil intelligence. A defect inspection system, connected to an automatic visual inspection device, is provided, including the followings. A re-inspection server (VRS) receives a defect image and a defect location. A training terminal stores trained modules. A classification terminal receives the defect image and the defect location, reads a target trained module corresponding to the defect image, classifies the defect image according to the target trained module to obtain a labeled defect image, and sends the labeled defect image to the VRS. A re-inspection terminal receives the labeled defect image from the VRS, and sends a verified operation corresponding to the labeled defect image to the VRS. A labeling re-inspection terminal receives the verified operation and the labeled defect image, and a labeling result corresponding to the labeled defect image. The VRS sends the labeling result and the labeled defect image to the training terminal to train a corresponding training module.
公开/授权文献:
- CN110659662B 利用人工智能的瑕疵检测系统及其方法 公开/授权日：2023-05-30
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G06 | 计算；推算；计数 |
| ----G06K | 数据识别；数据表示；记录载体；记录载体的处理 |
| ------G06K9/00 | 用于阅读或识别印刷或书写字符或者用于识别图形，例如，指纹的方法或装置 |
| --------G06K9/62 | .应用电子设备进行识别的方法或装置 |