基本信息:
- 专利标题： 红外焦平面组件的敏感参数监测方法和装置
- 申请号：CN201811256122.1 申请日：2018-10-26
- 公开(公告)号：CN109583018B 公开(公告)日：2023-04-18
- 发明人： 赖灿雄 , 肖庆中 , 杨少华 , 俞鹏飞 , 恩云飞 , 黄云 , 路国光
- 申请人： 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
- 申请人地址： 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
- 专利权人： 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
- 当前专利权人： 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
- 当前专利权人地址： 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
- 代理机构： 华进联合专利商标代理有限公司
- 代理人： 周清华
- 主分类号： G01J5/90
- IPC分类号： G01J5/90 ; G01J5/48
摘要：
本申请涉及一种红外焦平面组件的敏感参数监测方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：当红外焦平面组件获取到的辐照输入符合稳定条件时，指示红外焦平面组件对提供辐照输入的辐射源进行预设帧数的探测；当红外焦平面组件的上级系统监测到红外焦平面组件通过探测得到的探测数据后，从上级系统获取探测数据；根据探测数据计算红外焦平面组件的敏感参数；保存敏感参数，继续执行当红外焦平面组件获取到的辐照输入符合稳定条件时，指示红外焦平面组件对提供辐照输入的辐射源进行预设帧数的探测的步骤。采用本申请的方案能够实现对红外焦平面组件进行在线的健康状态监测，实用性强。
公开/授权文献:
- CN109583018A 红外焦平面组件的敏感参数监测方法和装置 公开/授权日：2019-04-05
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01J | 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法 |
| ------G01J5/00 | 辐射高温测定法 |
| --------G01J5/90 | .辐射高温计的测试、检验或校正操作 |