![用于波束成形测量的具有定位系统的测量系统和测量方法](/CN/2017/1/190/images/201710952164.jpg)
基本信息:
- 专利标题: 用于波束成形测量的具有定位系统的测量系统和测量方法
- 申请号:CN201710952164.8 申请日:2017-10-13
- 公开(公告)号:CN109286453B 公开(公告)日:2022-01-25
- 发明人: 科比特·罗威尔 , 文森特·阿巴迪
- 申请人: 罗德施瓦兹两合股份有限公司
- 申请人地址: 德国慕尼黑
- 专利权人: 罗德施瓦兹两合股份有限公司
- 当前专利权人: 罗德施瓦兹两合股份有限公司
- 当前专利权人地址: 德国慕尼黑
- 代理机构: 北京同达信恒知识产权代理有限公司
- 代理人: 黄志华; 何月华
- 优先权: 17182531.8 20170721 EP 17189575.8 20170906 EP
- 主分类号: H04B17/15
- IPC分类号: H04B17/15 ; H04B17/29 ; H04B7/06 ; H04B7/08
摘要:
本发明涉及用于波束成形测量的具有定位系统的测量系统和测量方法。提供了一种包括测量天线(6)、链路天线(7)和定位系统(2)的测量系统(1)。测量天线(6)配置用于在被测设备(4)上执行无线电测量。链路天线(7)配置成执行与被测设备(4)通信。定位系统(2)包括第一旋转定位器(24),第一旋转定位器(24)配置成使被测设备(4)围绕第一轴线(c)旋转。定位系统(2)还包括第二旋转定位器(26),第二旋转定位器(26)配置成使测量天线(6)围绕第二轴线(a)旋转。第一旋转定位器(24)连接至链路天线(7)且由此配置成使链路天线(7)绕着第一轴线(c)围绕被测设备(4)旋转。
公开/授权文献:
- CN109286453A 用于波束成形测量的具有定位系统的测量系统和测量方法 公开/授权日:2019-01-29