基本信息:
- 专利标题： 底层墙体结构探测器和红外相机
- 专利标题（英）：Underlying wall structure finder and infrared camera
- 申请号：CN201580057647.0 申请日：2015-10-23
- 公开(公告)号：CN106852189A 公开(公告)日：2017-06-13
- 发明人： L.R.西尔瓦 , M.D.斯图尔特
- 申请人： 弗兰克公司
- 申请人地址： 美国华盛顿州
- 专利权人： 弗兰克公司
- 当前专利权人： 弗兰克公司
- 当前专利权人地址： 美国华盛顿州
- 代理机构： 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理人： 周学斌; 张涛
- 优先权： 62/068397 20141024 US
- 国际申请： PCT/US2015/057117 2015.10.23
- 国际公布： WO2016/065262 EN 2016.04.28
- 进入国家日期： 2017-04-24
- 主分类号： H04N5/33
- IPC分类号： H04N5/33 ; G01V3/15
摘要：
用于检测诸如在墙体表面后面的底层结构的工具可以包括诸如电磁传感器的第一传感器，其被配置成生成指示底层结构的位置的数据。工具可以包括基于所述数据向用户提供指示的指示器。工具可以附加地或替换地包括用于生成指示场景的热图的红外图像数据的红外成像设备。显示器可以显示所生成的红外图像数据。底层结构可以在场景的热图中可见。工具可以经由显示器和指示器中的一个或二者向操作者指示底层结构特征的存在。
摘要（英）：
Tools used to detect underlying structures, such as behind the surface of a wall, can include a first sensor, such as an electromagnetic sensor, configured to generate data indicative of the location of the underlying structure. Tools can include an indicator that provides an indication to a user based on the data. Tools can additionally or alternatively include an infrared imaging device for generating infrared image data indicative of the heat pattern of a scene. A display can display the generated infrared image data. Underlying structures may be visible in the heat pattern of the scene. The tool can indicate the presence of an underlying structure feature to an operator via one or both of the display and the indicator.
公开/授权文献:
- CN106852189B 底层墙体结构探测器和红外相机 公开/授权日：2019-09-27