![用于取决于方向地测量光学辐射源的至少一个光度学或辐射测量学特征量的方法和测角辐射计](/CN/2015/8/3/images/201580016320.jpg)
基本信息:
- 专利标题: 用于取决于方向地测量光学辐射源的至少一个光度学或辐射测量学特征量的方法和测角辐射计
- 申请号:CN201580016320.9 申请日:2015-03-11
- 公开(公告)号:CN106233103B 公开(公告)日:2019-07-19
- 发明人: 卡斯滕·第姆 , 托马斯·赖纳斯 , 迪特尔·索罗卡 , 康斯坦丁·雷德瓦尔德 , 彼得·兰格
- 申请人: LMT光学测量技术(柏林)有限责任公司
- 申请人地址: 德国柏林
- 专利权人: LMT光学测量技术(柏林)有限责任公司
- 当前专利权人: LMT光学测量技术(柏林)有限责任公司
- 当前专利权人地址: 德国柏林
- 代理机构: 北京卓孚知识产权代理事务所
- 代理人: 任宇; 刘光明
- 优先权: 102014205430.3 2014.03.24 DE
- 国际申请: PCT/EP2015/055011 2015.03.11
- 国际公布: WO2015/144431 DE 2015.10.01
- 进入国家日期: 2016-09-26
- 主分类号: G01J1/02
- IPC分类号: G01J1/02 ; G01J3/50
A method and a gonioradiometer for the direction-dependent measurement of at least one photometric or radiometric characteristic of an optical radiation source. The emission direction of the photometric or radiometric characteristic is described using a system of planes (A, B, C), the planes of which intersect at an intersection line which passes through the radiation centroid of the radiation source, and using an emission angle (α, β, γ) which specifies the emission direction (α, β, γ) within a considered plane. A sensor or the radiation source is fastened to a multi-axis articulated robot. The robot is configured to only swivel about precisely one of its axes during a measuring process, in which measurement values relating to different emission angles (α, β, γ) within a considered plane of the system of planes (A, B, C) or to different planes at a considered emission angle (α, β, γ) are detected.
公开/授权文献:
- CN106233103A β、γ)涉及不同的平面。用于取决于方向地测量光学辐射源的至少一个光度学或辐射测量学特征量的方法和测角辐射计 公开/授权日:2016-12-14
IPC结构图谱:
G | 物理 |
--G01 | 测量;测试 |
----G01J | 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法 |
------G01J1/00 | 光度测定法,例如照相的曝光表 |
--------G01J1/02 | .零部件 |