基本信息:
- 专利标题： 一种局部放电特高频传感器的性能测试装置与测试方法
- 申请号：CN201510131413.8 申请日：2015-03-25
- 公开(公告)号：CN104777443B 公开(公告)日：2017-09-29
- 发明人： 陈孝信 , 钱勇 , 许永鹏 , 舒博 , 张一鸣 , 魏翀 , 盛戈皞 , 江秀臣
- 申请人： 上海交通大学
- 申请人地址： 上海市闵行区东川路800号
- 专利权人： 上海交通大学
- 当前专利权人： 上海驹电电气科技有限公司
- 当前专利权人地址： 上海市闵行区东川路800号
- 代理机构： 上海恒慧知识产权代理事务所
- 代理人： 张宁展
- 主分类号： G01R35/00
- IPC分类号： G01R35/00
摘要：
本发明公开了一种局部放电特高频传感器性能测试装置，包括吉赫兹横电磁波小室、矢量网络分析仪、聚四氟乙烯盖板、数据处理计算机、校验天线和待测特高频传感器，使用矢量网络分析仪同时作为信号输入与输出端，性价比高且实施方便。本发明还提供了利用该测试装置进行的传感器性能测试方法，可以同时给出表征传感器性能的时域参数和频域参数，具有可靠、准确等特点。
公开/授权文献:
- CN104777443A 一种局部放电特高频传感器的性能测试装置与测试方法 公开/授权日：2015-07-15
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R35/00 | 包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准 |