基本信息:
- 专利标题： 一种基于MooN架构获取定期试验周期的计算方法
- 申请号：CN201310573294.2 申请日：2013-11-13
- 公开(公告)号：CN103559412B 公开(公告)日：2016-09-07
- 发明人： 李明利 , 石桂连 , 齐敏 , 谢逸钦 , 程康 , 莫昌瑜 , 陈江华 , 李熊 , 唐庆 , 杨婷
- 申请人： 北京广利核系统工程有限公司 , 中国广核集团有限公司
- 申请人地址： 北京市海淀区永丰路5号院5号楼
- 专利权人： 北京广利核系统工程有限公司,中国广核集团有限公司
- 当前专利权人： 北京广利核系统工程有限公司,中国广核集团有限公司
- 当前专利权人地址： 北京市海淀区永丰路5号院5号楼
- 代理机构： 北京元中知识产权代理有限责任公司
- 代理人： 王明霞
- 主分类号： G06F19/00
- IPC分类号： G06F19/00
摘要：
本发明公开一种基于MooN架构获取定期试验周期的计算方法，将N个通道的正常状态与失效状态进行不同组合，以得到N个通道中N‑M+1个通道失效的系统失效组合，其中，假设每个通道的失效率λ相同，针对安全系统的定期试验周期为T，定期试验带来的风险降低为Q，利用上述设定通过对通道的组合方式分析得到的结果，与T进行比较，当两者接近时即可得到待测系统的定期试验周期。本发明根据通用可靠性理论和核电中关于定期试验周期的计算方法，解决了在不同的试验策略下，不同的符合逻辑情况下的通用逻辑符合结构进行初始试验周期的确定方法，本发明思路方法明确，公式统一，能够适用于所有的逻辑结构。
公开/授权文献:
- CN103559412A 一种基于MooN架构获取定期试验周期的计算方法 公开/授权日：2014-02-05