基本信息:
- 专利标题： 光测量计设备
- 申请号：CN201280005343.6 申请日：2012-01-10
- 公开(公告)号：CN103443600B 公开(公告)日：2016-05-04
- 发明人： 伊恩·列文 , 约翰·奥法雷尔
- 申请人： UL有限责任公司
- 申请人地址： 美国伊利诺伊州
- 专利权人： UL有限责任公司
- 当前专利权人： UL有限责任公司
- 当前专利权人地址： 美国伊利诺伊州
- 代理机构： 北京商专永信知识产权代理事务所
- 代理人： 方挺; 葛强
- 优先权： 13/004,913 2011.01.12 US
- 国际申请： PCT/US2012/020730 2012.01.10
- 国际公布： WO2012/096925 EN 2012.07.19
- 进入国家日期： 2013-07-12
- 主分类号： G01J1/02
- IPC分类号： G01J1/02 ; G01J1/04
摘要：
本发明涉及光测量装置及其使用方法。该装置用于测量从远处光源散发出来的光的光度量。与发明人所知的其他装置相比，此装置能更精确地测量选定光的光场。
公开/授权文献:
- CN103443600A 光测量计设备 公开/授权日：2013-12-11
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01J | 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法 |
| ------G01J1/00 | 光度测定法，例如照相的曝光表 |
| --------G01J1/02 | .零部件 |