基本信息:
- 专利标题： 表征电子元件对损毁机制的敏感度的方法
- 专利标题（英）：Method for characterizing the sensitivity of electronic components to destructive mechanisms
- 申请号：CN201180033072.0 申请日：2011-06-30
- 公开(公告)号：CN102959416A 公开(公告)日：2013-03-06
- 发明人： 弗洛伦特·米勒 , 塞巴斯蒂安·莫兰德
- 申请人： 欧洲航空防务与空间公司-EADS法国
- 申请人地址： 法国巴黎
- 专利权人： 欧洲航空防务与空间公司-EADS法国
- 当前专利权人： 欧洲航空防务与空间公司-EADS法国
- 当前专利权人地址： 法国巴黎
- 代理机构： 北京集佳知识产权代理有限公司
- 代理人： 李春晖; 李德山
- 优先权： 1055292 2010.07.01 FR
- 国际申请： PCT/EP2011/061034 2011.06.30
- 国际公布： WO2012/001119 FR 2012.01.05
- 进入国家日期： 2012-12-31
- 主分类号： G01R31/28
- IPC分类号： G01R31/28 ; G01R31/00 ; G01R31/311
The invention relates to a method for characterizing the sensitivity of an electronic component with respect to a natural radiating environment, comprising: turning on the electronic component; for given characteristics of a particle or incident beam, such as the energy, incidence, and/or path thereof, determining an SOA voltage range beyond which destructive events for said component occur; energizing the thus turned on electronic component with the characteristics of the particle or incident beam, under operating conditions that are close to the highest voltage value of the predetermined SOA voltage range; determining an efficient section of amplified transient events, said efficient section corresponding to an estimation of the destructive occurrences for said component; modifying the characteristics of said particle or said beam, and repeating the energizing of said component; and determining the efficient section for each modification of the characteristics.
公开/授权文献:
- CN102959416B 表征电子元件对损毁机制的敏感度的方法 公开/授权日：2016-02-03
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/28 | .电路的测试，例如用信号故障寻测器 |