基本信息:
- 专利标题： 检体检查自动化系统
- 专利标题（英）：Sample test automation system
- 申请号：CN201180025669.0 申请日：2011-05-23
- 公开(公告)号：CN102906571B 公开(公告)日：2015-06-10
- 发明人： 佐佐木孝浩 , 高桥贤一 , 大贺博 , 福垣达也 , 矢野茂 , 安泽贤一 , 长谷川望 , 塙雅明
- 申请人： 株式会社日立高新技术
- 申请人地址： 日本东京都
- 专利权人： 株式会社日立高新技术
- 当前专利权人： 株式会社日立高新技术
- 当前专利权人地址： 日本东京都
- 代理机构： 北京银龙知识产权代理有限公司
- 代理人： 曾贤伟; 曹鑫
- 优先权： 2010-118028 2010.05.24 JP; 2010-159260 2010.07.14 JP; 2010-162407 2010.07.20 JP
- 国际申请： PCT/JP2011/061759 2011.05.23
- 国际公布： WO2011/148897 JA 2011.12.01
- 进入国家日期： 2012-11-23
- 主分类号： G01N35/02
- IPC分类号： G01N35/02
摘要：
能够减轻操作者的作业量，不停滞地且正确地进行各个检体分别需要的处理的检体检查自动化系统。在检体检查自动化系统中，准备可架设多个检体（150）的检体托盘（120），对检体托盘（120）附加用于识别检体托盘（120）的识别符，在检体投入部（10）中具有读取检体托盘（120）的识别符的识别符读取装置（111），根据读取的检体托盘（120）的识别符，切换与检体（150）有关的信息。
公开/授权文献:
- CN102906571A 检体检查自动化系统 公开/授权日：2013-01-30