![双传导编程期间的模拟浮动栅电压检测](/CN/2004/8/0/images/200480002892.jpg)
基本信息:
- 专利标题: 双传导编程期间的模拟浮动栅电压检测
- 申请号:CN200480002892.3 申请日:2004-01-21
- 公开(公告)号:CN100407576C 公开(公告)日:2008-07-30
- 发明人: W·欧文
- 申请人: 爱克舍股份有限公司
- 申请人地址: 美国加利福尼亚州
- 专利权人: 爱克舍股份有限公司
- 当前专利权人: 英特赛尔美国有限公司
- 当前专利权人地址: 美国加利福尼亚州
- 代理机构: 上海专利商标事务所有限公司
- 代理人: 张政权
- 优先权: 10/353,404 2003.01.28 US
- 国际申请: PCT/US2004/001697 2004.01.21
- 国际公布: WO2004/070987 EN 2004.08.19
- 进入国家日期: 2005-07-27
- 主分类号: H03K5/153
- IPC分类号: H03K5/153 ; H03K5/22
摘要:
公开了一种用于在设置模式期间检测浮动栅电路中一浮动栅上的电压的方法。该方法包括以下步骤:a)使所述浮动栅电路进入一设置模式,其中第一预定电压耦合到浮动栅电路中第二晶体管的栅极;b)使由第一晶体管检测相对于第一电压的浮动栅上的电压;c)由浮动栅电路生成一输出电压;以及d)使浮动栅上的电压修改为输出电压的函数,包括在所述设置模式期间工作在双传导模式下的第一隧道器件和第二隧道器件的控制下、修改所述浮动栅上的电荷水平,所述第一隧道器件在所述浮动栅和第一隧道电极间形成,所述第二隧道器件在所述浮动栅和第二隧道电极间形成;以及e)重复步骤b)到d),直到浮动栅上的电压近似等于第一电压为止。
公开/授权文献:
- CN1751437A 双传导编程期间的模拟浮动栅电压检测 公开/授权日:2006-03-22
IPC结构图谱:
H | 电学 |
--H03 | 基本电子电路 |
----H03K | 脉冲技术 |
------H03K5/00 | 本小类中一个其他大组不包含的脉冲处理 |
--------H03K5/153 | .在输入信号的预定特性出现的瞬时或在此瞬时后的固定时间间隔上给出脉冲的装置 |